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ZSDL-Ⅰ/ZSDL-Ⅲ短(duan)(duan)路(lu)阻抗測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)于(yu)變(bian)壓器短(duan)(duan)路(lu)阻抗等參(can)數的測(ce)(ce)試(shi)，短(duan)(duan)路(lu)阻抗法是判(pan)斷繞(rao)組變(bian)形的傳統方法，根據GB1094.5-2003和(he)IEC60076-5：2000規定，短(duan)(duan)路(lu)電抗變(bian)化(hua)量是判(pan)斷變(bian)壓器繞(rao)組有無變(bian)形的重要依據，具(ju)有單相(xiang)測(ce)(ce)量（ZSDL-Ⅰ）和(he)三相(xiang)測(ce)(ce)量（ZSDL-Ⅲ）兩種型(xing)號。