干擾(rao)(rao)(rao)將(jiang)會降低(di)局部放(fang)電(dian)(dian)試(shi)驗的(de)檢測(ce)靈敏度，試(shi)驗時(shi)，應使干擾(rao)(rao)(rao)水平抑制(zhi)到低(di)水平。干擾(rao)(rao)(rao)類型通常有：電(dian)(dian)源干擾(rao)(rao)(rao)、接地系統干擾(rao)(rao)(rao)、電(dian)(dian)磁輻射干擾(rao)(rao)(rao)、試(shi)驗設備各元件的(de)放(fang)電(dian)(dian)干擾(rao)(rao)(rao)及各類接觸干擾(rao)(rao)(rao)。這些干擾(rao)(rao)(rao)及其進入試(shi)驗回(hui)路的(de)途徑。

    a.電源(yuan)干(gan)擾。檢測儀及(ji)試(shi)驗變壓(ya)器(qi)所用的電源(yuan)是與低壓(ya)配電網(wang)相連(lian)的，配電網(wang)內的各種高(gao)頻信號均能(neng)直接產生干(gan)擾。因此，通(tong)常采用屏蔽式電源(yuan)隔離變壓(ya)器(qi)及(ji)低通(tong)濾(lv)波器(qi)抑制，效果(guo)甚好。

    b.接(jie)(jie)(jie)地(di)干擾(rao)(rao)。試驗回路接(jie)(jie)(jie)地(di)方式不當，例如兩點(dian)及以上接(jie)(jie)(jie)地(di)的(de)接(jie)(jie)(jie)地(di)網系(xi)統(tong)中，各(ge)種(zhong)高(gao)頻信號(hao)會經接(jie)(jie)(jie)地(di)線耦合到試驗回路產生(sheng)干擾(rao)(rao)。這(zhe)種(zhong)干擾(rao)(rao)一般(ban)與試驗電壓(ya)高(gao)低(di)無關。試驗回路采用一點(dian)接(jie)(jie)(jie)地(di)，可降低(di)這(zhe)種(zhong)干擾(rao)(rao)。

    c.電(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)干(gan)擾。鄰近高(gao)壓(ya)帶電(dian)設備(bei)或高(gao)壓(ya)輸電(dian)線(xian)路(lu)(lu)，無(wu)線(xian)電(dian)發射(she)器及其它諸如可控(kong)硅(gui)、電(dian)刷等試(shi)驗回路(lu)(lu)以(yi)外(wai)的(de)高(gao)頻信號，均(jun)會以(yi)電(dian)磁(ci)感應、電(dian)磁(ci)輻(fu)射(she)的(de)形式經(jing)雜 散電(dian)容或雜散電(dian)感耦合到試(shi)驗回路(lu)(lu)，它的(de)波(bo)形往(wang)往(wang)與試(shi)品內部(bu)放(fang)電(dian)不易區分，對(dui)現(xian)場測量影(ying)響(xiang)較大。其特點是與試(shi)驗電(dian)壓(ya)無(wu)關。消(xiao)除(chu)這種干(gan)擾的(de)根(gen)本對(dui)策是將試(shi)品置 于屏蔽良好的(de)試(shi)驗室。采用平衡法(fa)(fa)、對(dui)稱法(fa)(fa)和模擬天線(xian)法(fa)(fa)的(de)測試(shi)回路(lu)(lu)，也能抑制輻(fu)射(she)干(gan)擾。

    d.懸(xuan)浮(fu)電位放(fang)電干(gan)擾。鄰近試驗回路的(de)不接地(di)金屬物產生的(de)感(gan)應懸(xuan)浮(fu)電位放(fang)電，也是(shi)(shi)(shi)常(chang)見的(de)一種(zhong)干(gan)擾。其特點是(shi)(shi)(shi)隨試驗電壓升(sheng)高而(er)增大(da)，但其波(bo)形一般較(jiao)易識別(bie)。消除的(de)對(dui)策(ce)一是(shi)(shi)(shi)搬離，二是(shi)(shi)(shi)接地(di)。

    e.電(dian)暈放電(dian)和(he)各(ge)連(lian)接(jie)(jie)處(chu)接(jie)(jie)觸放電(dian)的干(gan)(gan)擾。電(dian)暈放電(dian)產(chan)生于(yu)試驗(yan)回(hui)路(lu)處(chu)于(yu)高(gao)電(dian)位的導電(dian)部(bu)(bu)分(fen)，例如試品(pin)的法蘭、金屬蓋帽(mao)、試驗(yan)變壓器、耦合(he)電(dian)容(rong)器端(duan)(duan)部(bu)(bu)及(ji)高(gao)壓引線(xian) 等(deng)(deng)部(bu)(bu)分(fen)。試驗(yan)回(hui)路(lu)中(zhong)由于(yu)各(ge)連(lian)接(jie)(jie)處(chu)接(jie)(jie)觸不良也會產(chan)生接(jie)(jie)觸放電(dian)干(gan)(gan)擾。這(zhe)兩(liang)種(zhong)干(gan)(gan)擾的特性是隨(sui)試驗(yan)電(dian)壓的升(sheng)高(gao)而增大。消除這(zhe)種(zhong)干(gan)(gan)擾是在高(gao)壓端(duan)(duan)部(bu)(bu)采(cai)用防(fang)(fang)暈措施(shi) (如防(fang)(fang)暈環等(deng)(deng))，高(gao)壓引線(xian)采(cai)用無暈的導電(dian)圓管，以及(ji)保(bao)證(zheng)各(ge)連(lian)接(jie)(jie)部(bu)(bu)位的良 好接(jie)(jie)觸等(deng)(deng)。

    f.試驗(yan)變壓器(qi)和(he)耦(ou)合(he)電(dian)容器(qi)內部放(fang)電(dian)干(gan)擾。這種(zhong)放(fang)電(dian)容易(yi)和(he)試品內部放(fang)電(dian)相混淆。因此，使(shi)用的試驗(yan)變壓器(qi)和(he)耦(ou)合(he)電(dian)容器(qi)的局部放(fang)電(dian)水平應(ying)控制(zhi)在一定的允許量以下。