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更新時間：2018-02-03 
瀏覽次數：1285①直流面耐壓試驗不能反映設備實際工況下的電場分布，難以正確發現電容器的內部(bu)缺陷。直流電壓下電力電容器元件上的(de)電壓按電阻分布；而在交流電壓下則是按介電常數(shu)分(fen)布的，它反映運行(xing)的實際情況。全膜或紙膜電(dian)(dian)容(rong)器的固(gu)體介質電(dian)(dian)阻率可高(gao)達1～100 EΩm，當(dang)某電(dian)(dian)容元件(jian)的絕緣薄膜絕緣不良時，其電(dian)(dian)阻率可大幅度下降至(zhi)原電(dian)(dian)阻率的幾分之一。直流耐壓時，電阻率高(gao)(gao)的(de)良好的(de)電容元(yuan)件上承受的(de)電壓可較不(bu)良電容元(yuan)件高(gao)(gao)出幾倍，從而使絕緣不(bu)良的電容(rong)元(yuan)件反而容(rong)易通過試(shi)驗，其絕緣缺陷在運行電壓下便會較快地(di)暴露出來，發(fa)展成為(wei)故障或導致(zhi)事故。
②直流電壓可使電容器內部的局部放電大為減弱，不利于絕級缺陷的檢出。電容器內部的某些絕緣弱點或板邊緣電場集中的部位均可能產生局部放電，持續的局部(bu)放(fang)電(dian)對電(dian)容(rong)器絕緣是有害的，因(yin)此標準規定電(dian)力電(dian)容(rong)器在試驗電(dian)壓下的局部(bu)放(fang)電(dian)量不得(de)超過100 pC［1］。
加壓時電容器元件中的油隙特別是氣隙［2］中的場強常比固體介質的高，但其擊穿場(chang)強(qiang)卻較低，所以往(wang)往(wang)先發生局部放電。但是(shi)同樣的復(fu)合絕緣，在直流電壓作用下局部放電(dian)則會大大減弱(ruo)。氣(qi)隙(xi)發生(sheng)局部(bu)放電(dian)后(hou)產(chan)生(sheng)的正(zheng)、負離子形成反(fan)向電(dian)場(chang)E′，使(shi)氣(qi)隙(xi)中的合(he)成場強下(xia)降(jiang)，使(shi)局(ju)部放電削弱甚至(zhi)熄(xi)滅。而交流電壓則不然，只要(yao)外加試驗電壓高(gao)于局(ju)放(fang)起始電壓，每半(ban)周內(nei)至少(shao)會發(fa)生兩次(ci)局(ju)部(bu)放(fang)電。因此交流(liu)耐(nai)壓檢(jian)出絕(jue)緣(yuan)缺陷(xian)遠比直(zhi)流(liu)耐(nai)壓敏感(gan)。
③工頻交流耐壓試驗符合運行電壓的實際波形，與運行中出現的工頻暫態電壓升高的情況較為(wei)符合，不存在等價(jia)性問題。
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